1、范圍

本標準適用于用電磁法測量磁性基體上的搪玻璃層厚度的方法，儀器名稱叫涂層測厚儀（磁感應原理）。

2、原理

用電磁法測量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化而得到覆蓋層的度。

3 、影響測量精度的因素

3.1搪玻璃層厚度

搪玻璃層厚度的變化會影響測量精度,與所選用的儀器有關。對薄的玻璃層這個精度是一個常數值,與厚度無關;對于厚的搪玻璃層,其精度隨搪玻璃層厚度的增加有所降低。

3.2 基體金屬的磁性

磁性測厚儀受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼的磁性變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應用與被測件基體金屬具有相同性質的標準樣來校準儀器。最好用未搪玻璃前的試件來校準。

3.3 基體金屬厚度

每種儀器都對被測件的基體金屬有一個臨界厚度的要求,超過這個厚度,測定值不會受到基體金屬厚度增加的影響。如果儀器制造廠未提供本臺儀器的臨界厚度值,應通過試驗確定。

3.4 邊緣效應

被測件表面形狀的突變會影響磁性測厚儀的準確性。因此,太靠近被測件邊緣或拐角處的測試數據是不可靠的,除非該儀器針對上述條件做了校準。這種影響可能延伸到距邊角15mm處。

3.5 曲率被測件的曲率半徑越小,影響越顯著。這與儀器的類型有相當大的關系。用雙極測頭測厚儀測量時,測頭與圓柱體的軸向平行或垂直放置,讀數會不同。單極測頭如果測頭發生了不規則磨損,也會產生類似的現象。

因此,在彎曲試樣上測量前儀器要針對這種情況進行專門校準,否則,測數據不可

3.6 表面粗糙度

如果在被測件粗糙表面上同一參考面積內所測得的一系列數值明顯地超過儀器固有的重現性,則在某一點測量的次數至少應增加到5次。

3.7基體金屬機加工方向

用雙極測頭或被磨損不平整的單極測頭的儀器測量時,儀器讀數會受到磁性基體金屬機械加工(如軋制)方向的影響,測量值會隨測頭在被測件表面上放置的方向而變化。

3.8 剩磁

基體金屬中的剩磁對恒定磁場測厚儀測量的準確性有影響。如果使用交變磁場磁阻型測厚儀進行測量,這種影響會減小很多。

3.9 磁場

周圍各種電器設備所產生的強磁場,嚴重干擾電磁式測厚儀的測量精度。

3.10 附著物質

附著物質會影響磁性測厚儀測頭與搪玻璃層表面緊密接觸,所以玻璃面和測頭必須保持干凈。

3.11 測頭壓力

施加于測頭壓力大小,對儀器讀數有影響。

3.12 測頭取向

對磁引力原理測厚儀,測頭方向與地球重力場方向相同或相反,測量讀數不同。因此,儀器測頭在與地球重力場方向相同或相反的情況下測量時,應作相應校準。

4 、儀器校準

概述4.1、

測量前,每臺涂層測厚儀 應按制造廠的說明書用標準片進行校準。使用中,每隔一段時間應對儀器進行校準。

4.2 、標準樣

用已知厚度的箔片或已知覆蓋層厚度的試樣作為校準標準片

4.2.1 校準箔是指非磁性金屬或非金屬的片。

用箔來校準磁性測厚儀時,要保證箔與基體金屬緊密接觸“箔”有利于曲面的校準,比用有覆蓋層的標準片更合適。為了防止測量誤差,保證“箔”與基體金屬之間的緊密接觸,應盡可能避免使用有彈性的箔片。箔片易產生壓痕,應時常更換。

4.2.2 有覆蓋層的標準片

在基體金屬上覆蓋一層均勻的、已知厚度的,并與其牢固結合的蓋層作為標準片。

4.3 、校準

4.3.1 用來校準的標準片的基體金屬表面粗糙度和磁性要與被測件的相似。為了確保測量的準確性，最好將在標準樣基體金屬上測得的數值與被測件的未塘玻璃的基體金屬上測得的數值加以比較。

4.3.2為了有效地排除基體金屬機械加工方向和剩磁對測量準確性的影響,校準雙極測頭的儀器時必須將測頭旋轉幾個 90°,以判斷加工方向、剩磁的影響程度。

4.3.3 如果被測件的基體金屬厚度沒有超過儀器要求的臨界厚度,用來校準的標準樣的基體金屬厚度必須與被測件的基體金屬的厚度相同。

通常可用一有足夠厚度的與被測件基體金屬材質相同的金屬,墊在用來校準的標準樣和被測件的基體金屬的下面,使測量結果與基體金屬的厚度無關。

4.3.4 檢測有曲率的搪玻璃件時,用于校準的標準片或校準箔金屬基體的曲率應與被測件曲率相同

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