3 超聲檢測設備、器件和材料

3.1 超聲檢測系統 ultrasonic testing system

由超聲檢測儀、探頭和電纜組成的系統.

3.2 超聲探傷儀 ultrasonic flaw detector

利用超聲波反射或透射原理,以檢查工件缺陷的儀器.其主要組成部分有同步電路、發射電路、接收電路、掃描電路、顯示電路、電源電路和探頭等.按顯示方式不同,可分為A型、B型、C型顯示等.

3.3 超聲測厚儀 ultrasonic thickness gauge

根據超聲波在材料或被檢件中的傳播時間或產生共振的原理設計的、用于測量材料或被檢件厚度的儀器.

3.4 超聲顯微鏡 ultrasonic microscope

利用超聲輻射工作的一種特殊的顯微鏡.

3.5 A型顯示 A-scope; A-scan

以水平基線(X軸)表示距離或時間,用垂直于基線的偏轉(Y軸)表示輻度的一種信息顯示方法

3.6 B型顯示 B-scope; B-scan

一種能夠顯示被檢件的橫截面圖像,指示反射體的大致尺寸及其相對位置的超聲信息顯示方法.

3.7 C型顯示 C-scope; C-scan

一種能夠顯示被檢件縱剖面圖像的超聲信息顯示方法.

3.8 D型顯示 D-scope; D-scan

對被檢件體積內的反射體作立體的圖形顯示.

3.9 MA型顯示 MA-scope; MA-scan

在探頭掃查過程中,將所得到的A型顯示圖形連續疊加的顯示.

3.10 發射脈沖 transmitted pulse

為了產生超聲波而加到換能器上的電脈沖.

3.11 時基線 time base

A型顯示熒光屏中表示時間或距離的水平掃描線.

同義詞:掃描線時間軸

3.12 掃描 sweep

電子束橫過探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復移動.

3.13 掃描速度 sweep speed

熒光屏上的橫軸與相應聲程的比值.

3.14 掃描范圍 sweep range

熒光屏時基線上能顯示的最大聲程.

同義詞:時基范圍

3.15 延時掃描 delayed sweep

在A型或B型顯示中,使時基線的起始部分不顯示出來的掃描方法.

3.16 界面觸發 interface trigger

以界面信號作為起始點,將該點作為其他時序系統(例如閘門位置)的參照基準.

3.17 時基線展寬 expanded time-base sweep

時基線光點掃描速度的增加,能將被檢件厚度或長度范圍內選定區域的回波更詳細地在超聲探傷儀熒光屏上顯示出來.

同義詞:標尺展寬 scale expansion

3.18 水平線性 horizontal linearity; time or distance linearity

超聲探傷熒光屏時間或距離軸上顯示的信號與輸入接收器的信號(通過校正的時間發生器或來自已知厚度平板的多次回波)成正比關系的程度.

同義詞:距離線性; 時基線性

3.19 垂直線性 vertical linearity

超聲探傷儀熒光屏上顯示的信號幅度與輸入接收器的信號幅度成正比關系的程度.

同義詞:幅度線性 amplitude linearity

3.20 水平極限 horizontal limit

熒光屏上能夠顯示的最大水平偏轉距離.

3.21 垂直極限 vertical limit

熒光屏上能夠顯示的反射脈沖的最大幅值.

3.22 動態范圍 dynamic range

在增益調節不變時,超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比.通常以分貝表示.

3.23 脈沖重復頻率 pulse repetition frequency

為了產生超聲波,每秒內由脈沖發生器激勵探頭晶片的脈沖次數.

同義詞:脈沖重復率 pulse repetition rate

3.24 檢測頻率 inspection frequency; test frequency

超聲檢測時所使用的超聲波頻率.通常為0.4-15MHZ.

同義詞:探傷頻率

3.25 回波頻率 echo frequency

回波在時間軸上進行擴展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數.

3.26 靈敏度 sensitivity

在超聲探傷儀熒光屏上產生可辨指示的最小超聲信號的一種量度.

3.27 靈敏度余量 surplus sensitivity

超聲探傷系統中,以一定電平表示的標準缺陷探測靈敏度與最大探測靈敏度之間的差值.

3.28 穿透深度 penetration

超聲探傷時,在被檢件中能夠測出回波信號的最大深度.

3.29 盲區 dead zone

在一定探傷靈敏度下,從探測面到最近可探缺陷在被檢件中的深度.盲區由探頭、超聲探傷儀及被檢件的特性確定.

3.30 分辨率 resolution

超聲探傷系統能夠區分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力.

3.31 縱向分辨率 longitudinal resolution

沿聲束傳播方向的分辨率.

3.32 橫向分辨率 transverse resolution

在距探頭橫向的一定距離上,垂直于聲束方向的分辨率.

3.33 脈沖調諧 pulse tuning

在某些超聲探傷儀上采用的一種控制方法,即通過調整發射脈沖的頻譜以使探頭和電纜對發射器具有最隹的響應.

3.34 飽和 saturation

輸入信號幅度增大而熒光屏上回波信號幅度不增大的一種現象.

3.35 觸發/報警狀態 trigger/alarm condition

超聲儀器發現被檢件中有超標檢出信號時發出指示的狀態.

3.36 觸發/報警標準 trigger/alarm level

超聲儀器用以區分被檢件為合格或不合格的信號幅度差的基準.

3.37 視頻顯示 video presentation

探頭接收到的超聲高頻信號,經檢波放大后形成探傷圖形的顯示方法.

同義詞:檢波顯示

3.38 射頻顯示 radio frequency(r-f) display

探頭接收到的超聲高頻信號,被放大后直接進行顯示的方法.

同義詞:不檢波顯示

3.39 時標 markers

用電子方法產生的一系列脈沖或其他方式使熒光屏時基線上依次出現的標志信號,用于距離或時間的測定.

3.40 距離刻度 distance marker; time marker

為便于直接指示缺陷位于被檢件內的深度、水平距離、聲程等而加在探傷儀熒光屏時基線上的等分刻度.

3.41 抑制 reject; suppression

在超聲探傷儀中,為了減少或消除低幅度信號(電或材料的噪聲),以突出較大信號的一種控制方法.

3.42 閘門 gate

為監控探傷信號或作進一步處理而選定一段時間范圍的電子學方法.

3.43 衰減器 attenuator

使信號電壓(聲壓)定量改變的裝置.衰減量以分貝表示.

3.44 準直器 collimator

控制超聲束的尺寸及方向的裝置.

3.45 信噪比 signal-to-noise ratio

超聲信號幅度與最大背景噪聲幅度之比.通常以分貝表示.

3.46 信號泄漏 cross talk

聲或電信號穿過預設隔離層的泄漏現象.

3.47 阻塞 quenching

接收器在接收到發射脈沖或強脈沖信號后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現象.

3.48 增益 gain

超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數形式.以分貝表示.

3.49 距離幅度校正 distance amplitude correction; swept gain; time variable gain; time corrected gain

用電子學方法改變放大器,使不同深度上的相同反射體能產生同樣的回波幅度.

同義詞:DAC校正;深度補償

3.50 距離幅度曲線 distance gain size curve

根據規定的條件,由產生回波的已知反射體的距離D(A)、探傷儀的增益G(V)和反射體的大小S(G)三個參量繪制的一組曲線.實際探傷時,可由測得的缺陷距離和增益值,從此曲線上估算出缺陷的當量尺寸.

同義詞:DGS曲線;AVG曲線

3.51 面積幅度曲線 area amplitude response curve

表示在垂直入射時,傳聲介質中離探頭等距但面積不同的平面反射體回波幅度變化的曲線.

3.52 耦合 coupling

在探頭和被檢件之間起傳導聲波的作用.

3.53 耦合劑 couplant

施加于探頭和探測面之間,以改善超聲能量傳遞的液態介質.

同義詞:耦合介質 coupling medium

3.54 噴液器 bubbler

利用噴射液流使超聲束與被檢件耦合的裝置.

3.55 施利倫系統 Schlieren system

一種用于可視顯示超聲束在透明介質中傳播情況的光學系統.

3.56 試塊 test block

用于鑒定超聲檢測系統特性和探傷靈敏度的樣件.

3.57 標準試塊 standard tast block

材質、形狀和尺寸均經主管機關或權威機構檢定的試塊.用于對超聲檢測裝置或系統的性能測試及靈敏度調整.

同義詞:校準試塊 calibration block

3.58 對比試塊 reference block

調整超聲檢測系統靈敏度或比較缺陷大小的試塊.一般采用與被檢材料特性相似的材料制成.

同義詞:參考試塊

3.59 壓電效應 piezoelectric effect

某些材料,在被施加作用力時,能使其表面上產生電荷積累且可逆的效應,稱為壓電效應.

3.60 磁致伸縮效應 magnetostrictive effect

某些材料,在磁場中產生形變且可逆的效應,稱為磁致伸縮效應.

3.61 壓電材料 piezoelectric material

具有壓電效應的材料,如石英、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等.

3.62 探頭 probe; search unit

發射或接收(或既發射又接收)超聲能量的電聲轉換器件.該器件一般由商標、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護膜或楔塊組成.

同義詞:換能器 transducer

3.63 壓電換能器 piezoelectric transducer

以壓電效應的形式,將電信號和機械振動信號作可逆轉換的換能器.

3.64 電磁聲換能器 electro-magnetic acoustic transducer

由金屬表面電磁感應產生的渦流和金屬內恒定磁場之間相互作用而產生的洛侖茲力進行電能與機械能的轉換,發射或接收超聲波的換能器.

3.65 磁致伸縮換能器 magnetostrictive transducer

以磁致伸縮效應的形式,將電能和機械能可逆轉換的換能器.

3.66 直探頭 normal probe

進行垂直探傷用的探頭,主要用于縱波探傷.

同義詞:直射聲束探頭 straight beam probe

3.67 斜探頭 angle probe

進行斜射探傷用的探頭,主要用于橫波探傷.

同義詞:斜射聲束探頭 angle beam probe

3.68 縱波探頭 longitudinal wave probe

發射和接收縱波的探頭.

3.69 橫波探頭 shear wave probe

發射和接收橫波的探頭,如Y切石英探頭.

3.70 表面波探頭 surface wave probe

發射和接收表面波的探頭,用于表面波探傷.

3.71 聚焦探頭 focusing probe

能使超聲束聚焦的探頭.

3.72 可變角探頭 variable angle probe

能夠連續改變入射角的探頭.

3.73 液浸探頭 immersion probe

用于液浸法探傷的探頭.

3.74 水柱耦合探頭 water column probe

進行水柱耦合法探傷用的探頭.

同義詞:局部水浸探頭

3.75 輪式探頭 wheel type probe; wheel search unit

一個或多個壓電元件裝在一注滿液體的活動輪胎中,超聲束通過輪胎的滾動接觸面與探測面相耦合的一種探頭.

3.76 單晶片探頭 single crystal probe

用單個晶片制成的探頭,可兼作發射和接收.

3.77 雙晶片探頭 double crystal probe; twin probe T-R probe; S-E probe

裝有兩個晶片的探頭,一個作為發射器,另一個作為接收器.

同義詞:聯合雙探頭: 分割式探頭

3.78 硬膜探頭 hard-faced probe

為了減小磨損,用硬質材料,如鋼或陶瓷制成保護膜的探頭.

3.79 軟膜探頭 soft-faced probe

采用彈性膜做保護膜,晶片與膠片之間的空隙充以液態耦合劑的探頭.

3.80 晶片 crystal

超聲探頭中的電聲轉換元件.主要采用石英、鈦酸鋇和鋯鈦酸鉛等壓電材料制成,其形狀有平面、曲面等.

3.81 晶片負載 crystal loading

由晶片向與之作聲耦合的介質傳遞的單位面積的機械功.

3.82 機電耦合系數 electro-mechanical coupling factor

壓電晶片機械能和電能之間相互轉換效率(耦合強弱)的參數.

3.83 壓電應變常數 piezoelectric strain constant

單位電場強度產生應變的大小.

3.84 壓電電壓常數 piezoelectric voltage constant

單位壓力產生開路電場強度的大小.

3.85 壓電應力常數 piezoelectric stress constant

單位電場強度產生應力的大小.

3.86 壓電勁度常數 piezoelectric stiffness constant

單位應變產生電場強度的大小.

3.87 介電常數 dielectric constant

材料的介電特性.介電常數與壓電晶片附上電極后的電容有關,也就是與壓電晶片呈現的電氣阻抗有關.

3.88 頻率常數 frequency constant

晶片共振頻率與其厚度的乘積.

3.89 品質因數 quality factor

表示因材料內部摩擦而產生的機械損耗大小.品質因數越大,機械損耗越小.

3.90 居里點 Curie point

對壓電材料而言,是指鐵電相和順電相之間轉變的溫度.

同義詞:居里溫度 Curie temperature

3.91 電位移 electric displacement

電場強度乘以介質常數.

3.92 保護膜 diaphragm

為了保護晶片而貼在晶片前面的薄片.

3.93 斜楔 wedge

為了使超聲波傾斜入射于探測面而附加在晶片前面的楔狀物體.

3.94 聲透鏡 acoustical lens

裝配在晶片前面,使聲束聚焦的器件.

3.95 接觸塊 contact shoe; probe shoe

為了保護探頭,或為了適應特殊探測面以提高發射和接收效率而附在探頭前面的塊狀物體.

3.96 延遲塊 delay block

為使超聲脈沖持續時間等影響落在延遲過程中而附加在探頭晶片前的透聲材料,如雙晶片直探頭前的塊狀物體.

3.97 隔聲層 sound insulating layer

雙晶片探頭中用以使兩者在聲路上分割開來的吸聲性強的隔片.

3.98 探頭背襯 probe backing

在壓電晶片幅射有用超聲的另一面所粘接的用強吸聲和強阻尼材料制作的塊狀物體.

3.99 探頭阻尼 probe damping

用電或機械方法減小探頭相繼各周的振動幅度,以限制探頭受脈沖激勵所產生的信號持續時間.

3.100 阻尼塊 damping block

與晶片或楔塊組合具有高阻尼效率的塊狀物體.

3.101 標稱角度 nominal angle

探頭上標志的入射角或鋼中折射角.

3.102 K值 K value

斜探頭折射角的正切值.

3.103 標稱頻率 nominal frequency

探頭標志頻率.

3.104 工作頻率 operating frequency

探頭發生的超聲脈沖頻譜的中心頻率.

3.105 探頭等效阻抗 probe equivalent impedance

探頭有一定聲負載條件下,輸入端電阻抗的絕對值.

3.106 偏向角 angle of squint

探頭側邊與聲束軸線在探測面上投影的夾角,對于斜探頭,偏向角通常與橫向偏差有關.

3.107 屋頂角 roof angle

斜探頭中為在探測面上聲束投影和晶片法線之間的夾角;直探頭中為聲束軸線和晶片法線之間的夾角.

3.108 焦距 focal distance

聚焦探頭聲束實測焦點到探頭表面的距離.

3.109 焦點長度 focus length

在焦點前后同焦點聲壓比差一定分貝數的長度.

3.110 焦點寬度 focus width

聚焦直探頭焦點處的聲束寬度或聚集斜探頭在焦點處沿水平方向的寬度.

3.111 會聚點 convergence point

雙晶片探頭發射和接收聲場軸線的交點.

同義詞：交叉點

3.112 延遲聲程 delay path

晶片至探測面的聲程.

3.113 探頭入射點 probe index

橫波探頭或表面波探頭上發射聲束軸線通過探頭底面的點.

3.114 前沿距離 front distance

從斜探頭的入射點到探頭底面前端的距離.

4 超聲檢測方法

4.1 脈沖反射法 pulse echo method

將超聲脈沖發射到被檢件內,根據反射波的情況來檢測缺陷、材質等的方法.

同義詞:脈沖回波法

4.2 穿透法 through transmission technique; transmission technique

超聲波由一個探頭發射,并由在被檢件相對一面的另一個探頭接收,根據超聲波的穿透程度來進行探傷的方法.

4.3 共振法 resonance method

改變連續超聲波的頻率以確定被檢件的共振特性,從而鑒別被檢件的某些性質,例如厚度、剛性或粘接質量的一種方法.

4.4 縱波法 longitudinal wave technique

使用縱波進行探傷的方法.

4.5 橫波法 shear wave technique

使用橫波進行探傷的方法

4.6 表面波法 surface wave technique

使用表面波進行探傷的方法.這種方法主要用于表面光滑的材料或被檢件.

4.7 板波法 plate wave technique

使用板波進行探傷的方法.這種方法主要用于薄板的探傷.

同義詞:蘭姆波法

4.8 垂直法 normal beam method; straight beam method

使用與探測面相垂直的超聲束進行探傷的方法.

4.9 斜射法 angle beam method

使用與探測面成斜角的超聲束進行探傷的方法.

4.10 聲阻法 acoustic impedance method

利用被檢件的振動特性,即被檢件對探頭所呈現的聲阻抗的變化來進行檢測的方法.

4.11 直接接觸法 direct contact method

探頭與探測面直接接觸的探傷方法.

4.12 接觸法 contact inspection

僅通過一層極薄的耦合劑使探頭與探測面接觸的探傷方法.

4.13 液浸法 immersion testing

將探頭和被檢件浸入(至少為局部浸入)液體(通常為水)中,探頭與探測面不直接接觸,以液體(水)為耦合介質的探傷方法.

4.14 水柱耦合法 water column coupling method

將被檢件的一部分浸在水中或被檢件與探頭之間保持水層而進行探傷的方法.

同義詞:局部水浸法

4.15 一次波法 single traverse technique

在斜射探傷中,超聲束不經被檢件底面反射而直接指向缺陷的方法.

同義詞: 直射法 direct scan

4.16 二次波法 double traverse technique

在斜射探傷中,超聲束在被檢件底面只反射一次而指向缺陷的方法.

同義詞: 一次反射法 single bounce technique

4.17 三次波法 triple traverse technique

在斜射探傷中,超聲束在被檢件底面和探測面各反射一次后指向缺陷的方法.

nbsp; 同義詞: 二次反射法 double bounce technique

4.18 四次波法 quadruple traverse technique

在斜射探傷法中,超聲束在被檢件底面和探測面相繼反射三次后指向缺陷的方法.

同義詞: 三次反射法 triple bounce technique

4.19 多次反射法 multiple echo method

利用底面的多次反射波檢測材料中的超聲衰減、缺陷及被檢件厚度的方法.

4.20 陰影法 shadow technique

利用障礙物對超聲波產生的陰影(聲影)檢出被檢件中缺陷的方法.

4.21 單探頭法 single probe technique

用同一個探頭即發射又接收超聲波的方法.

4.22 雙探頭法 double probe technique

用兩個探頭分別發射和接收超聲波的探傷方法.

4.23 多探頭法 multiple probe technique

使兩個以上的探頭進行探傷的方法.

4.24 一發一收法 pitch and catch technique

使用兩個分離探頭,其中一個用來將超聲能量射入被檢件,另一個置于能接收到缺陷反射波的位置的超聲檢測方法.

4.25 雙發雙收法 double transceiver technique

同時使用兩個探頭,每個探頭分別兼作發射器和接收器的超聲探傷方法.

4.26 初探 pre-test

在超聲探傷中,預先用高于規定探傷靈敏度進行的探傷.

4.27 復探 final test

在超聲探傷中,對初探中發現的缺陷,用規定靈敏度仔細進行操作,以確定其性質、位置、大小和形狀等.

4.28 手動檢測 manual testing

探頭由手工操作,信號通過探傷人員觀察和評價的檢測方法.

4.29 機械化檢測 remote controlled testing

檢測的實施、缺陷的信號觀察及評價全部或部分由機械裝置完成的檢測方法.

4.30 自動檢測 automatic testing

用電氣、油壓和氣壓等能量進行探頭的機械掃查并能自動記錄探傷結果的檢測方法.

4.31 探測面 test surface

在超聲檢測時,超聲能量進入或離開被檢件時所通過的表面.

同義詞:探傷面

4.32 界面 interface boundary

聲阻抗不同的兩種介質的分界面.

4.33 底面 bottom surface

在垂直探傷中,與探測面相對的最遠的被檢件表面.

同義詞:背面 back surface; back wall

4.34 側面 side wall

在垂直探傷中,被檢件除探測面和底面之外的面.

4.35 端面 edge

在斜射探傷和板波探傷中,指能反射超聲波的板厚方向的傾面,相當于垂直探傷中的底面.

4.36 缺陷有效反射面 effective reflection surface of flaw

聲束射及缺陷時,能被沿原路徑反射回來的缺陷表面.

4.37 回波 echo

從反射體上反射回來的超聲信號.

同義詞:反射波 reflected wave

4.38 回波指示 echo indication

超聲探傷儀上所顯示的回波.

4.39 界面回波 interface echo

由聲阻抗不同的兩種介質的交界面產生的回波.

同義詞: 界面波

4.40 邊界一次回波 boundary echo(first)

來自被檢件任何邊界的反射,以可能最短的聲程返回到探頭所在表面的回波.此術語僅限于橫波和表面波探傷時使用.

4.41 底面回波 bottom echo

由被檢件底面反射回來的波.

同義詞:背面回波 back reflection; back-wall echo

4.42 參考回波 control echo

從一個恒定的反射面,例如底面反射回來的參考信號.

4.43 穿透顯示 display through

在穿透法中所顯示的接收到的聲信號.

4.44 干擾回波 parasitic echo

妨礙探傷結果評定的各種回波總稱為干擾回波.其中包括假反射波,楔內反射波以及因儀器的噪聲、外界干擾等產生的反射波等.

4.45 形狀回波 form echo

因被檢件的幾何形狀引起的回波.

4.46 棱邊回波 edge echo

來自邊緣的形狀回波.

同義詞: 棱邊波

4.47 多次回波 multiple reflections

超聲波在兩個不同的界面之間相繼多次往復所形成的回波.

同義詞:多次反射 multiple reflections

4.48 多次底面反射 multiple back reflections

來自被檢件底面的相繼多次反射.

4.49 底面反射損失 loss of back reflection

被檢件底面反射波幅度的減弱或消失.

同義詞: 背面反射損失

4.50 遲到回波 delayed echo

來自同一反射體的回波,因所經的路徑不同或在途中發生波型轉換而遲后到達的回波.

4.51 表面回波 surface echo

從被檢件表面反射回來的波.

4.52 幻象回波 phantom echo

由于超聲探傷儀重復頻率過高,在透聲性良好的材料中所出現的非真實回波(虛幻波).

4.53 反?；夭?ghost echo

由于脈沖重復頻率和時基線頻率匹配組合失當而形成的回波顯示.

4.54 草狀回波 grass

由于超聲波在材料的晶界或小反射體上反射而形成的空間隨機信號.

同義詞: 林狀回波

4.55 楔內回波 spurious echo

聲束斜入至楔底時,有一部分被反射,由于這部分聲能在楔內的雜亂反射而形成在熒光屏上出現始脈沖后的回波.

4.56 缺陷回波 flaw echo

由被檢件內部或表面缺陷引起的回波.

同義詞: 缺陷反射波; 傷波

4.57 密集回波 cluster echo

為數甚多且彼此間距甚小的一群回波.

4.58 游動回波 traveling echo

在正常探傷靈敏度下,隨著探頭的移動而在熒光屏上有明顯游動的缺陷回波,稱為游動回波.

4.59 噪聲 noise

對有用信號的接收、解釋或處理起干擾作用的任何無用的(電或聲)信號.

4.60 表面噪聲 surface noise

由于表面凹凸不平,在耦合層內的超聲反射形成的不希望有的信號,通常顯示在離發射脈沖很近的距離上.

4.61 電子噪聲 electronic noise

由探傷儀放大器中電子干擾和熱噪聲引起的隨時間而迅速變化的無用的無規則信號.

4.62 反射體 reflector

超聲束遇到聲阻抗改變時產生反射的界面,按其形狀有球面、圓柱形、圓盤形和槽形等.

4.63 人工缺陷 artificial defect

在探傷過程中,為了調整或校準探傷系統的靈敏度等,用各種方法在試塊或被檢件上加工制成的人工傷,如平底孔、橫孔、槽等.

4.64 平底孔 flat-bottomed hole

平底的圓柱形盲孔.其圓平面用作為超聲反射體.

4.65 橫孔 cross-drilled hole

平行于探測面并與所置的探頭成正交方向的圓柱形鉆孔.其圓柱面形成超聲反射體.

4.66 探測范圍 test range

按比例調整后熒光屏整個時間軸(滿刻度)所代表的距離范圍.

4.67 探傷靈敏度 working sensitivity

在規定條件(頻率、增益、抑制等)下能探出最小缺陷的能力.

4.68 掃查靈敏度 scanning sensitivity

為防止漏檢,在初探中所采用的較規定靈敏度高的靈敏度.

4.69 規定靈敏度 specified sensitivity

根據產品的技術要求(規程、說明書等)確定的靈敏度.

4.70 探傷圖形 pattern

在超聲探傷儀的熒光屏或記錄裝置上顯示或記錄探傷結果的圖形.

4.71 回波高度 echo height

探傷圖形上的反射脈沖高度,用分貝值或標準刻度板上的百分數表示.

同義詞:回波幅度 echo amplitude

4.72 回波寬度 echo width

從校正的超聲探傷儀熒光屏水平掃描線刻度上讀出的回波寬度.

4.73 始脈沖 initial pulse

發射脈沖在熒光屏上的顯示.

4.74 始波寬度 inital pulse width

始脈沖起始點(前沿)和結束點(后沿)之間的間距.

同義詞:始脈沖寬度

4.75 直射聲束 straight beam

垂直于探測面傳播的超聲束.

4.76 斜射聲束 angle beam

以一定入射角和一定折射角在被檢件內傳播的超聲束.

4.77 聚焦聲束 focused beam

在特定距離上,聲能量聚集的聲束.

4.78 聲束入射點 beam index

入射聲束軸線與被檢件表面的交點.

4.79 跨距點 skip point

橫波探傷中,探測面上和底面上與聲束軸線相交的反射點.

4.80 透射點 transmission point

與超聲能量進入被檢件的瞬間相一致的顯示在時基線上的一點.

4.81 耦合損失 coupling losses

由于超聲波通過耦合劑而導致超聲波幅度的降低.

4.82 傳輸修正 transfer correction

因被檢件與校準試塊的聲能透入量不同而對超聲儀器放大量進行的修正,包括表面聲能損失修正(表面補償)和衰減補償.

同義詞:傳輸補償

4.83 掃查 scanning

在進行超聲探傷時,探測面上的探頭與被檢件的相對移動.

4.84 掃查區域 scanning zone

探頭與探測面相對移動的范圍.

4.85 掃查速度 scanning speed

探頭與探測面相對移動的速度.

4.86 掃查軌跡 scanning path

探頭在探測面上移動的軌跡.

4.87 掃查間距 scan pitch

當探頭在掃查區移動時,掃查線之間的間距或螺距.

4.88 間接掃查 indirect scan

利用被檢件的一個表面或幾個表面的反射,使超聲束對準缺陷的掃查方法.

4.89 間隙掃查 gap scanning

探頭與探測面之間通過少量液體耦合的掃查方法.

4.90 接觸掃查 contact scanning

探頭與被檢件在接觸狀態下進行的掃查方法.

4.91 全面掃查 all-round scan

探頭在整個探測面上無一遺漏地循序移動(相鄰掃查線的間距不大于探頭的直徑)的掃查方法.

4.92 局部掃查 local scan

在整個探測面上探頭按規定要求有間距地規則移動(相鄰掃查線的間距一般大于探頭的直徑)的掃查方法.

4.93 線掃查 linear scan

探頭在平板類被檢件的探測面上以一定的間距作直線移動或斜直線移動的掃查方法.

4.94 格子線掃查 scan on grid lines

探頭按預先劃好的格子線先循一個方向作直線移動,然后再轉移90°,沿與原方向垂直的方向作直線移動的掃查方法.

4.95 點掃查 spot scan

探頭不作移動,僅作跳躍式地與被檢件指定點接觸,或者不作定點(等間距)接觸,而是根據需要在適當部位上抽檢的掃查方法.

4.96 前后掃查 travering scan; depth scan

在橫波探傷中,探頭在焊縫垂直的方向前后移動的掃查方法.

4.97 左右掃查 lateral scan

在橫波探傷中,探頭與焊縫距離一定,將探頭平行于焊縫移動進行掃查的方法。

4.98 斜平行掃查 lateral scan with oblique angle

在橫波探傷中,使用一個探頭斜對著焊縫,平行于焊縫移動探頭的掃查方法.

4.99 環繞掃查 swivel scan

被檢件送進的同時,探頭垂直于被檢件表面,沿探測面旋轉的掃查方法.

4.100 轉動掃查 rotational scan

在橫波探傷中,以探頭的入射點為中心,轉動探頭,以改變聲束相對焊縫的方向的掃查方法.

4.101 串列掃查 tandem scan

厚板焊縫等的橫波探傷中,在焊縫的一側前后排列兩個探頭,一發一收進行掃查的方法.

4.102 焊縫上掃查 scanning directly on the weld

在橫波探傷中,對鏟平增強部分的焊縫,為檢查橫向裂紋等缺陷,把探頭置于焊縫上,使超聲束向著焊縫的方向,在焊縫上移動探頭的掃查方法.

4.103 交叉掃查 straddle scan

在焊縫的每一側各放置一個探頭,一發一收來探測對接焊縫橫向缺陷的掃查方法.

同義詞: 跨過掃查

4.104 平行掃查 parallel scan

探頭直接置于探測面部位的表面,移動方向與該部位軸線并行,主要用于發現橫向缺陷.

4.105 鋸齒掃查 zigzag scan

在焊縫橫波探傷中,探頭一邊前后移動,一邊稍微平行于焊縫移動成鋸齒形軌跡的掃查方法.

4.106 聲程 beam path; path length

在探傷中,聲束單向通過的路程.

4.107 跨距 skip distance

在斜射探傷中,在探測面上從聲波入射點到聲波經底面反射回至該探測面的一點之間的水平距離.

4.108 定位 location

利用已知尺寸的試塊(或工件)作為反射體來調節探傷儀的時間軸,然后根據反射波出現在時間軸上的位置來確定缺陷的位置.

4.109 水平定位 horizontal location

調節時間掃描線與水平距離成相應的比例關系進行的定位.

4.110 垂直定位 vertical location

調節時間掃描線與深度距離成相應的比例關系進行的定位.

4.111 聲程定位 beam path location

調節時間掃描線與聲程距離成相應的比例關系進行的定位.

4.112 缺陷前沿距離 front distance of flaw

在探測面上斜探頭的前端到缺陷的距離.

4.113 水平距離 probe distance

在探測面上斜探頭入射點到缺陷的距離.

同義詞: 探頭距離

4.114 探頭-焊縫距離 probe to weld distance

在探測面上斜探頭入射點到焊縫中心的水平距離.

4.115 水程 water path; water distance

在液浸法或水柱耦合法探傷中,從探頭表面到探測面聲束入射點之間的距離.

同義詞: 水層距離

4.116 深度位置 depth position

反射體至探測面的距離.

4.117 深度范圍 depth extension

垂直于探測面反射體在深度方向的范圍.

4.118 定量法 sizing technique

根據缺陷構成的超聲響應評估缺陷尺寸的方法.

4.119 當量 equivalent

用于缺陷比較的某種類型的人工缺陷的大小.

4.120 當量法 equivalent method

在一定的探測條件下,用某種規則的人工缺陷反射體尺寸來表征被檢件中實際缺陷相對尺寸的一種定量方法.

4.121 平底孔當量 flat-bottomed hole equivalent

指相同距離上的缺陷給出的超聲指示與某一尺寸平底孔的超聲指示相當.

4.122 對比試塊法 reference block method

用對比試塊已知反射體顯示與被檢件所獲顯示相比較的評價方法.

4.123 基準線法 reference line method

用特定聲程、幾何形狀及尺寸的反射體制作參考曲線來評價被檢件所獲顯示的評價方法.

同義詞:參考線法

4.124 半波高度法 half-value method

在同一探測條件下,對探頭從獲得最大反射回波的位置,移動至回波高度為原來波的半值來評價反射體尺寸的方法.

4.125 缺陷指示長度 indicated defect length

將超聲探傷估定缺陷的始端和終端位置投影在探傷材料表面上并連接其兩點間的長度.

4.126 缺陷指示面積 indicated defect area

缺陷指示長度與寬度或高度的乘積.

4.127 聲全息術 acoustic holography

利用聲波的特性實現的全息成像技術.